熒光光譜 ROHS檢測(cè)儀BXR-616 真空型

應(yīng)用領(lǐng)域：

1.ROHS\無鹵檢測(cè)指令

2.合金分析領(lǐng)域 （特別是輕元素）

  銅合金成分分析（如  AL 等）

  銅合金牌號(hào)判定

  不銹鋼成分分析（抽真空輕元素檢測(cè)）

  不銹鋼牌號(hào)判定

3 .鍍層成分分析

   鍍層厚度分析

   鍍層環(huán)(huán)保檢測(cè)

4.包裝指令檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)（94/62/EC)

 CD+PB+Hg+ Cr6 ＜100

5.玩具指令檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

  EN71-3

技術(shù)(shù)參數(shù)(shù)

1.機(jī)型指標(biāo)介紹:

       1.4. 工作條件：

               ● 工作溫度：15-30℃

              ● 相對(duì)濕度：30%～80%  

              ● 電    源：AC :220V ±5V

1.5. 技術(shù)(shù)性能及指標(biāo):

1.5.1. 元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)；

1.5.2. 元素含量分析范圍為1PPm到99.99%；

1.5.3. 測(cè)量時(shí)間：60-300秒(可調(diào)(diào))；

1.5.4. RoHS指令規(guī)(guī)定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl）其檢測(cè)限度最高達(dá)1PPM；  

1.6.7. 能量分辨率為129±5電子伏特；

1.5.8. 溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃；

1.5.9. 電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)(wěn)壓電源）；

1.6.BXR-616是BXR-606型的升級(jí)版，更好地應(yīng)對(duì)RoHS、無鹵等環(huán)(huán)保指令，配置了真空測(cè)試系統(tǒng)(tǒng)，加了     元 素測(cè)試范圍，探測(cè)器配備SDD的測(cè)試系統(tǒng)(tǒng)，特別是提高了Na、Mg、Al、Si等輕元素的檢出限，精確     度提高了，同時(shí)在測(cè)試Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl等其他元素的重復(fù)性穩(wěn)(wěn)定性有了明顯的提高。

    1.6.2整體結(jié)(jié)構(gòu)(gòu)化設(shè)計(jì)，儀器美觀大方。

    1.6.3采用美國(guó)新型的SDD探測(cè)器，電致冷而非液氮制冷，體積小、數(shù)(shù)據(jù)(jù)分析準(zhǔn)確且維護(hù)成本低。

    1.6.4采用自主研發(fā)(fā)的SES信號(hào)處理系統(tǒng)(tǒng)，有效提高峰背比，讓測(cè)量更精準(zhǔn)。

    1.6.5一鍵式自動(dòng)測(cè)試，使用更簡(jiǎn)單，更方便，界面更人性化。

    1.6.6七種光路校正準(zhǔn)直系統(tǒng)(tǒng)，根據(jù)(jù)不同樣品自動(dòng)切換。

    1.6.7多重防輻射泄露設(shè)計(jì)，輻射防護(hù)級(jí)別屬于同類產(chǎn)(chǎn)品。

    1.6.8優(yōu)(yōu)化一體化散熱設(shè)計(jì)，使整機(jī)散熱性能得到更大提高，確保X射線源的運(yùn)行安全。

    1.6.9機(jī)芯溫度監(jiān)(jiān)控技術(shù)(shù)，確保射線源的安全可靠運(yùn)行，有效延長(zhǎng)其使用壽命，降低使用成本。

    1.6.10多重儀器配件保護(hù)系統(tǒng)(tǒng)，并可通過軟件進(jìn)行全程監(jiān)(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)(wěn)定、更安全。

    1.6.11專用真空測(cè)試軟件，是否抽真空可自由選擇，真空度實(shí)時(shí)顯示，標(biāo)準(zhǔn)視窗設(shè)計(jì)，界面友好，操作簡(jiǎn)便，所有控制均在輕點(diǎn)鼠標(biāo)之間。

    1.6.12本機(jī)采用USB2.0接口，有效保證數(shù)(shù)據(jù)(jù)準(zhǔn)確高速有效的傳輸。

    1.6.13全自動(dòng)真空系統(tǒng)(tǒng),屏蔽空氣對(duì)輕元素測(cè)試的影響,極大提高了輕元素的檢出限，同時(shí)也擴(kuò)大了檢測(cè)范圍。

1.6.14一體化真空腔體設(shè)計(jì)，有效地保證了符合測(cè)試要求的真空度，同時(shí)提高了設(shè)備的可維性。

1.6.15抽真空測(cè)試和不抽真空測(cè)試轉(zhuǎn)(zhuǎn)換簡(jiǎn)單，方便客戶使用；同時(shí)開蓋即解除真空，安全、簡(jiǎn)單實(shí)用。

2.儀器硬件部分主要配置                                            

 2.1 SDD電制冷探測(cè)器:（新型探測(cè)器）                        

2.1.1. SDD電制冷探測(cè)器；分辨率：129±5e電子伏特

2.1.2. 放大電路模塊:對(duì)樣品特征X射線進(jìn)行探測(cè)；把探測(cè)采集的信息,進(jìn)一步放大。

2.2  X射線激發(fā)(fā)裝置(薄鈹窗光管）:                            

2.2.1. 燈絲電流最大輸出：1mA；

2.3  高壓發(fā)(fā)射裝置:

2.3.1. 電壓最大輸出： 50kV；

2.3.2. 最小5kv可控調(diào)(diào)節(jié)(jié)

2.3.3. 自帶電壓過載保護(hù)

2.4　一體化真空系統(tǒng)(tǒng)

2.4.1　具有低震動(dòng)、低噪音、自保護(hù)及抽速快等優(yōu)(yōu)良性能的真空泵系統(tǒng)(tǒng)；

2.4.2　幾何抽速：60 L/min（50Hz）

2.4.3　極限壓力：6.7×10-2 Pa

2.5 多道分析器:                      

2.5.1. 將采集的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)(zhuǎn)換成數(shù)(shù)字信號(hào),并將處理結(jié)(jié)果提供給上位機(jī)軟件；

2.5.2  最大道數(shù)(shù)： 4096；

2.5.3  包含信號(hào)增強(qiáng)處理功能；

2.65光路過濾模塊

2.6.1  降低X射線光路發(fā)(fā)送過程中的干擾，保證探測(cè)器接收信號(hào)準(zhǔn)確；

2.6.2  將準(zhǔn)直器與濾光處整合；

2.7  準(zhǔn)直器自動(dòng)切換模塊

2.7.1 多達(dá)5種選擇

2.8  濾光片自動(dòng)切換模塊

        2.8.1五種濾光片的自由選擇和切換。

2.9  準(zhǔn)直器和濾光片的自由組合模塊

         2.9.1 多達(dá)幾十種的準(zhǔn)直器和濾光片的自由組合。

2.10 工作曲線自動(dòng)選擇模塊

2.10.1 自動(dòng)選擇工作曲線，摒棄手動(dòng)選擇，避免人為操作失誤，將自動(dòng)化和智能化

         演繹，使操作更人性，更方便。

3. 專用軟件

3.1.1有害元素檢測(cè)軟件

專門針對(duì)RoHS(含鹵素元素)檢測(cè)而開發(fā)(fā)（含真空控制功能），對(duì)采集的光譜信號(hào)進(jìn)行數(shù)(shù)據(jù)(jù)處理、計(jì)算并報(bào)告顯示測(cè)量結(jié)(jié)果。

3.1.2功能介紹

※專門應(yīng)對(duì)歐盟RoHS指令中六種物質(zhì)(zhì)涉及的五種元素 Cd, Pb, Hg, Br, Cr和鹵素元素Cl測(cè)試，測(cè)量時(shí)間為60-300秒（可調(diào)(diào)）

※操作界面簡(jiǎn)潔直觀，使用方便，無需專業(yè)(yè)人士操作

3.2元素分析檢測(cè)軟件

     3.2.1 元素分析范圍：從鈉（Na）到鈾（U）；

     3.2.2 一次可同時(shí)分析24個(gè)元素；

     3.2.3 分析檢出限可達(dá)1PPM；

     3.2.4 含量分析范圍一般為1ppm—99.9%；

     3.2.5 軟件自帶多種圖像處理和分析計(jì)算方法；

     3.2.6 多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1％；

     3.2.7 長(zhǎng)期工作穩(wěn)(wěn)定性為0.1％；

3.2.8 能量分辨率為129±5eV；

3.2.9  軟件自帶多種圖像處理和計(jì)算方法；

3.2.10 應(yīng)用領(lǐng)域：合金（如不銹鋼、銅合金、鋁合金等合金）所含元素含量分析（如Cu、Zn、Pb、Sn、Fe、Ni、Mn、Sb、Al、Si、Cr、Mo、Co、Ti、V等元素）；

3.3 鍍層厚度測(cè)試軟件

     3.3.1 元素分析范圍：從鈉（Na）到鈾（U）；

     3.3.2 一次可同時(shí)分析3層以上鍍層；

     3.3.3 分析檢出限可達(dá)0.01μm；

     3.3.4 分析厚度一般為0.1μm到50μm之間；

     3.3.5 多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1μm（對(duì)于小于1μm的最外層鍍層）；

     3.3.6 長(zhǎng)期工作穩(wěn)(wěn)定性為0.1μm（對(duì)于小于1μm的最外層鍍層）；

     3.3.7 配置小孔準(zhǔn)直器，測(cè)試光斑在0.2mm以內(nèi)(nèi)；

     3.3.8 探測(cè)器能量分辨率為129±5eV；

3.3.9 應(yīng)用領(lǐng)域:金屬電鍍層厚度的測(cè)量,如Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu等；

3.4軟件界面如下圖所示：

※可自動(dòng)選擇適合的校準(zhǔn)曲線，測(cè)量更方便，更準(zhǔn)確

※中英文界面自動(dòng)切換，并具有第三方語言訂制功能

※自動(dòng)校準(zhǔn)儀器

※自帶樣品材質(zhì)(zhì)定性分析，防止手動(dòng)用戶選擇錯(cuò)誤曲線

※多種報(bào)告形式打印

※可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖

※儀器測(cè)試參數(shù)(shù)及真空度實(shí)時(shí)顯示，所有掌控一目了然

※機(jī)芯溫度監(jiān)(jiān)控技術(shù)(shù)，保證X射線源的安全可靠運(yùn)行，有效延長(zhǎng)其使用壽命，降低使用成本。

 熒光光譜 ROHS檢測(cè)儀BXR-616 真空型