TSE320-S拼接一鍵閃測量儀 影像儀

產(chǎn)(chǎn)品簡介

TSE-300系列拼接式閃測儀采用雙遠(yuǎn)(yuǎn)心光學(xué)(xué)系統(tǒng)(tǒng)，結(jié)(jié)合高精度圖像拼接測量算法。不僅能快速測量產(chǎn)(chǎn)品的平面尺寸和形位公差，還可搭配鐳射（點(diǎn)(diǎn)激光、線激光）測量段差、深度和平面度等尺寸。儀器量測范圍可達(dá)(dá)300*200mm，測量效率是傳統(tǒng)(tǒng)影像儀器的10-20倍

產(chǎn)(chǎn)品優(yōu)(yōu)勢

1）超高的效率，單次可拼接測量300*200mm的范圍，可同時測量上百個產(chǎn)(chǎn)品。30s內(nèi)(nèi)即可測量上千個尺寸，效率是傳統(tǒng)(tǒng)儀器的10-20倍。

2）優(yōu)(yōu)秀的模板匹配功能，產(chǎn)(chǎn)品可任意擺放，無需治具。具有多種模板匹配模式，確保復(fù)(fù)雜工件都能夠精準(zhǔn)(zhǔn)匹配。

3）強(qiáng)(qiáng)大的拼接測量功能，可支持多圖層、多光源切換拼接，不僅可以測量薄片類產(chǎn)(chǎn)品，還可以測量有一定厚度的產(chǎn)(chǎn)品。

4）完善的測量工具，可直接測量點(diǎn)(diǎn)、線、圓、弧、輪廓；豐富的構(gòu)(gòu)造工具包含相交、相切、垂直、平行、鏡像、平移、旋轉(zhuǎn)(zhuǎn)；

5）完善的坐標(biāo)(biāo)體系，支持工件多重坐標(biāo)(biāo)系，支持坐標(biāo)(biāo)平移、旋轉(zhuǎn)(zhuǎn)、調(diào)(diào)用；

6）支持點(diǎn)(diǎn)激光、線激光，可同時測量高度差、深度、平面度。

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